顆粒圖像分析儀/顯微圖像分析系統(tǒng)/顯微圖像儀 型號(hào)DP-2006

 DP-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)是我公司研制的種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統(tǒng)的顯微鏡法與現(xiàn)代的圖像處理相結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本作流程是通過數(shù)字?jǐn)z象機(jī)抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，通過專業(yè)的顆粒圖像分析軟件對(duì)圖像行處理與分析， 經(jīng)顯示器和打印機(jī)顯示和輸出分析結(jié)果。本儀器具有直觀、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)，不僅可以直接觀察到顆粒形貌，還可以計(jì)算出每個(gè)顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布，為科研、域增添了種新的粒度測(cè)試手段。 

、DP-2006顆圖像分析儀基本參數(shù)

•     測(cè)試范圍：1-3000微米；
•     顯微鏡：中外合資光學(xué)顯微鏡（可選配其他種類顯微鏡，如口顯微鏡、金相顯微鏡等）；
•     數(shù)字?jǐn)z像機(jī)：300像素；
•     大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍；
•     系統(tǒng)總放大倍數(shù)：5000倍；
•     大分辨率：0.1微米/像素；
•     重復(fù)性誤差：<3%（不包含樣品制備因素成的誤差）。

二、DP-2006數(shù)字?jǐn)z像機(jī)基本參數(shù)

•     像素尺寸：3.2μm X 3.2μm；
•     傳感器類型：逐行掃描CMOS；
•     輸出顏色：bayer彩色；
•     數(shù)據(jù)位數(shù)：紅綠藍(lán)各10選8；
•     光學(xué)尺寸：1/2英寸；
•     鏡頭接口：CS,C；
•     信噪比：43dB；
•     動(dòng)態(tài)范圍：60dB；
•     清晰度：>1000線；
•     曝光方式：ERS；
•     同步方式：外觸發(fā)或連續(xù)采集；
•     輸出方式：USB2.0；
•     數(shù)據(jù)傳輸距離：數(shù)據(jù)傳輸距離5米（加中繼可達(dá)25m）；
•     可編程控制：圖像尺寸、亮度、增益、幀率、曝光時(shí)間；
•     供電要求：5V；
•     耗：<2.25W；
•     外形尺寸（mm）：54.5x54.5x46.1（含接圈）、38x38x38.7（不含接圈）。

三、DP-2006儀器組成與圖像分析原理

• 儀器組成：
•     DP-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)包括粒度分析軟件、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、顯微鏡、電腦、打印機(jī)等組成分。
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• 分析原理：
•     通過對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等效面積圓和等體積，從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等體積直徑以及圓形度等參數(shù)，再對(duì)所有的顆粒行分級(jí)統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。

四、DP-2006顆粒圖像分析儀軟件能

• 圖像處理能：
•     對(duì)圖像行灰度轉(zhuǎn)換，二值化，分割，刪除，剪切，粘貼，縮放，填充等系列處理，得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
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• 數(shù)據(jù)處理能：
•     通過對(duì)圖像行處理，測(cè)量軟件自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出顆粒個(gè)數(shù)，然后計(jì)算每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)，得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長(zhǎng)、實(shí)際周長(zhǎng)、圓形度等參數(shù)。通過粒度分級(jí)，得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數(shù)，并可根據(jù)需要選擇個(gè)數(shù)分布或體積分布。
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• 軟件輸出項(xiàng)目：
•     包括原始數(shù)據(jù)（樣品信息和測(cè)試信息）；分析數(shù)據(jù)（粒度分布表/粒度分布圖）；圖形（頻率分布直方圖和累計(jì)分布曲線）；典型結(jié)果（中位徑，平均徑，圓形度等）。
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• 報(bào)告輸出能：
•     可以打印原始圖像和多種測(cè)試報(bào)告，包括粒度報(bào)告，圖像報(bào)告，圓形度報(bào)告以及粒度和典型圖像的綜合報(bào)告。

五、DP-2006顆粒圖像分析儀適用域

•     研磨材料：白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等；
•     電池材料：石墨、鈷酸鋰等；
•     其他：可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。